Lo spessore del rivestimento può essere determinato per fluorescenza da una sorgente di Raggi X.

Il laboratorio è dotato di uno strumento calibrato per tutte le bande di rivestimento e substrati.

Infatti è noto che il reticolo cristallino di un determinato riporto di un determinato materiale di supporto è in grado di ri-emettere una radiazione a lunghezza d’onda più alta proporzionale alla sua dimensione.

Una volta calibrato con campioni standard è possibile correlare l’energia emessa con lo spessore del film protettivo.

Lo strumento ha un’estrema sensibilità ed i limiti di rivelazione sono molto bassi (ca 0,20 microns). Non distrugge ne lesiona parzialmente il particolare oggetto di analisi.